基本信息

联系人、电话、邮箱

负责人：栾媛,0532-58666763,

luany@bhqditi.com

工程师：安琪，anq@bhqditi.com

仪器产地

美国

分类标签

薄膜磁学/电学性能测试

主要学科领域

微电子、磁学

测试内容

1.平面磁性薄膜磁学性能KH；2.平面磁性薄膜电学性能MR

技术指标

1、可测量8寸晶圆2、可实现多点、自动步进测量3、磁场范围1.4T 4、可实现MR测试5、可测角散射和偏斜测量能力

主要功能

主要应用于磁性薄膜平面磁学/电学性能测量，可实现高低场、用户自定义多点测量。同时自动分析矫顽力、各向异性场、磁阻率等磁学特性参数。

样品要求

1、 硬基底大小最大8寸晶圆大小，最小2cm*2cm；

2、 顶层材料透光率好（KH曲线）

3、 测试要求文档（命名+场大小/方向+点数/位置+限压/限流大小）

预约说明

提前2周预约

检测周期

一般自收到样品后5个工作日给出结果

收费标准

单点KH低场/高场测试：80元/点

单点MR低场/高场测试：100元/点

9点cross KH低场/高场测试：480元/9点

9点cross MR低场/高场测试：600元/9点

9点Skew mapping：900元/9点

套餐：

单点KH+RH低场+高场测试：270元/点

9点KH+RH低场+高场测试：1600元/9点

也可定义不同点数。