中文   |  English
磁学测试设备
二维磁场探针台

基本信息

联系方式

负责人:栾媛,0532-58666763,

luany@bhqditi.com

工程师:安琪,anq@bhqditi.com

仪器生产厂家、

中国

分类标签

四探针测试设备

薄膜,器件电学,磁学测试。

主要学科领域

电学磁学四探针测试

测试服务内容

1.测试薄膜或器件的电阻等相关电学测试;2.测试磁性材料薄膜或器件的电阻随磁场的变化等磁性测试。

技术指标

1、最大能测量8寸晶圆

2、X,Y,Z,R四轴电动控制可调

3、配置面内X,Y方向两轴磁场,磁场最大达到1200Oe

4、配备2450电流电压源,2182高精度纳伏表,可实现电流和电压源输入的相关测试.

5.配备6探针臂,可实现多种测试需求

主要功能

二维磁场探针台主要应用于磁传感器薄膜或器件的电磁学性能测试。

样品要求(共享规定)

1、尺寸小于8寸2.器件电极尺寸大于70*70um

预约说明

提前预约

检测周期

一般自收到样品后3天内给出结果

收费标准

套餐一:两探针R-H测试,磁场小于1000Oe,300元/h;磁场大于1000Oe,500元/h(单轴磁场扫描,可选X或Y轴,可加正负场)。

套餐二:四探针R-H,V-H测试,磁场小于1000Oe,400元/h;磁场大于1000Oe,600元/h(单轴磁场扫描,可选X或Y轴,可加正负场)。

套餐三:薄膜四探针测试,500元/h(可测试8寸及以下的样品)。如满足测试要求重新编写测试程序,需要另收费用。

业绩

成都因赛太科技责任有限公司

设备照片:

该版权归北京航空航天大学青岛研究院所有 技术支持:博达软件